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地质填图基本方法 一、通过剖面测统一地质填图单元 在开展地质填图之前，必需建立统一的地质填图单元。此项工作主要是通过实测地质 剖面研究建立地质填图单元。测制能控制全测区各时代地层的地层剖面、岩浆岩剖面变质 岩剖面及构造地质剖面，划分出可供填图使用岩石地层单位（含火山岩）及岩浆岩单元和 变质岩单元和构造单元（断裂和褶皱） 。剖面必须部署在地质体露头良好和具有代表性的 剖位测制。剖面测线尽可能垂直地层走向，夹角一般不要小于 30o （特殊情况例外）。 （一）地层剖面 在无明显变质或浅变质沉积岩区， 按 1：5000 精度测制主干地层剖面和辅助地层剖面。 建立起工作区基本地层层序，尽可能开展岩石地层、生物地层、年代地层及层序地层的划 分及沉积岩相和沉积盆地演化及地层含矿性的综合研究，并采集相关测试样品和古生物样 品。研究区内至少有一条比较完整的地层剖面能对测区出露地层达到基本控制。当测区内 剖面不能满足研究要求时，即应在相邻图幅补充测制剖面进行完善。辅助剖面测制重点主 干补救主干剖面尚未很好解决的地质问题和控制岩相变化。 （二）岩浆岩剖面 岩浆岩剖面包括火山岩剖面和侵入岩剖面两部分。 火山岩剖面 ：具有岩浆岩剖面和地层剖面的双重特性，一般在地层剖面中部署，按岩 浆岩研究要求观察研究并采集相应测试样品。由于火山岩的岩相变化较大，应尽可能性能 部署辅助剖面控制。 侵入岩剖面 ：剖面部署一般垂直于岩体长轴和面理（或线理）方向测制。正确划分不 同期次（或序次）侵入体，并进行相带划分，采集必要的岩矿标本、岩石化学、岩石地球 化学及稀土和同位素年龄样品。对岩体侵入接触变质带要作重点研究。重点研究岩体含矿 性及岩浆活动与成矿的关系。剖面比例尺大小据岩体大小和岩石和岩相复杂程度而定。大 型岩体（大岩株和岩基）的剖面测制可用高精度 GPS 仪测量数据定位成图。 （三）变质岩剖面 变质岩剖面包括有区域变质岩、接触变质岩和动力变质岩三个部分。在各条地质剖面 测制过程中，均应有变质岩剖面的研究内容。 1. 区域变质岩部份 ：由沉积岩形成的低级区域变质岩不设置单一的变质岩剖面，变质 岩研究随地层剖面测制进行； 由沉积岩形成的中 -高级区域变质岩， 在难于恢复原始地层层 序时，应加强变质岩的叠加变质作用和多期变质作用、变质相带划分及含矿性研究；由岩 浆岩组成变质岩部份：浅变质岩原则上在岩浆岩剖面测制过程进行；中深变质程度的岩浆 岩应设置变质岩剖面作变质岩的深入研究。 2. 接触变质岩部份 ：剖面研究随岩浆岩剖面测制一次性完成（含内、外接触带） ，据岩 石结构和变质特征进行渐近变质带划分。一旦发现接触变质岩发育比较完整的部位应另外 安排剖面测制，剖面应包括从内接触带到正常岩石或区域变质岩的岩石部位。 3. 动力变质岩部份 ：一般随构造地质剖面测制。在区域性断裂带，应作比较系统的动 力变质岩剖面研究，并在断裂的多个部位开展动力变质作用的剖面研究，突出变质作用与 成矿的关系。 （四）构造地质剖面 在正式开展地质填图之前，应部署贯穿全测区主体构造线的构造地质剖面 2-3 条，建 立起测区基本地质构造格架， 以便指导地质填图。 剖面成图数学精度采用精度较高 GPS 仪 控制，成图比例尺为 1：10000 或者 1：20000。在地质构造特别复杂地段，应测制 1：1000 到 1：5000 的较大比例尺剖面。 （五）剖面记录格式 1. 地层剖面记录格式 剖面名称： 剖面编号： 剖面位置： 剖面坐标：起点坐标 X= Y= （高程）H= 终点坐标 X= Y= （高程）H= 目的任务： 人员组成及分工 剖面记录： 剖面制图：