X射线荧光分析法理论基础中文.pptVIP

X射线荧光分析法;目录;目录;(a)快速分析 (b)无损分析 (c)不影响其化学状态 (d)便于进行同族元素的分析 (e)分析精度高，能够分析4Be～92U (f)便于进行定性分析 (g)能够进行厚度分析 (h)便于准备样品;;;;①样品架;①样品架;;①样品架;比较X射线光管的结构;;;荧光X射线的发生;①样品架;（A，B的X射线的通过距离之差）;;①样品架;;①样品架;;;①样品架;;波高分析器(PHA)的原理;;;目录;;X射线光路的透过率;*) Rh/Cr为双靶用;;康普顿散射线;伴线峰;;干扰谱线举例;Pb-Lβ +Se-Kβ;目录;测试谱线举例;由于样品厚度产生的强??变化;(a) 轻元素中的重元素;由于Ni-Ka被 Fe大量吸收， Fe-Ni 的双重Ni校正曲线向下凸起。;在Fe-Cr 2元系的Cr校正曲线中，1次X射线在样品中发生的Fe-Ka使样品中产生Cr-Ka，Cr-Ka被强化，形成向上凸起的校正曲线。;;从分析谱线的旁边选择内标元素谱线 内部标准元素谱线和分析谱线分别用K线和L线表示;污水中的有机物会产生30～80%的变化 需要校正有机物产生的影响;P-Ka和Mo-Ll线的重叠;;;;N0(Nobs) ：被测定的计数率 Nt(Ntrue) ：没有漏计的正确计数率 τ ：停歇时间;标准化Ⅰ…1点校正法;标准化Ⅱ…2点校正法;测试条件的确定;背景位置的设定;PHA的设定;荧光分析目录;FP法的使用方法;FP法的使用方法;目录;样品制备方法;粉末样品的样品制备法;粉末样品的样品制备法;玻璃熔片法 ;;样品制备的注意事项;粒度的影响;;未知组分