杂散光分析和总结.pdfVIP

基本信息 stray light 指远离吸收光的其它 波长 的入射光 。由于 光源 发出的 光 经过 单色器 时 有可能从单色器舱内及其它 光学 元件表面发生 反射 ，从光学元件表面以及 大气 中的 灰尘 也可以发生散射，这些都会产生 杂散光 。杂散光的存在会对 比尔定律产生 偏移 。 另：一般指超出 眼睛 网膜视线之 光线 。 杂散光的来源 产生杂散光的原因很多，其最主要的原因大致有以下 9 个方面： 1. 灰尘沾污光学元件（如光栅、棱镜、透镜、反射镜、滤光片等）； 2. 光学元件被损伤，或光学元件产生的其他缺陷（如光栅、透镜和反 射镜、棱镜材料中的气泡等）； 3. 准直系统内部或有关隔板边缘的反射； 4. 光学系统或检测器没有作适当的屏蔽，“室光”直接进入光学系统； 5. 热辐射或荧光引起的二次发射； 6. 狭缝的缺陷； 7. 光束孔径不匹配； 8. 光学系统的相差； 9. 单色器内壁黑化处理不当。 以上 9 个方面中，光栅是杂散光的主要来源。它产生的杂散光占总杂 散光约 80%。[1] 杂散光的重要性 杂散光是紫外可见分光光度计非常重要的关键技术指标。它是紫外可 见分光光度计分析误差的主要来源，它直接限制被分析测试样品浓度的上 限。当一台紫外可见分光光度计的杂散光一定时，被分析的试样浓度越大， 其分析误差就越大。 ASTM认为：“杂散光可能是光谱测量中主要误差的来 源。尤其对高浓度的分析测试时，杂散光更加重要”。有文献报道，在紫 外可见光区的吸收光谱分析中，若仪器有 1%的杂散光，则对 A 为 2.0 的样 品测试时，会引起 2%的分析误差。 因此，认真研究杂散光，以便减少或降低杂散光对光谱分析的影响， 是光谱仪器研制者和使用者们必须高度重视的问题。 [2] 1 近日，完成了成像和非成像方面完整的杂散光实例分析，并总结如下。下文仅是一家之言，仅供大家参考。 谢绝转载。 杂散光（ Stray light ）是光学系统中不受欢迎的光线。成像系统和非成像系统都存在杂散光问题，甚至人眼 都有这个问题。 杂散光主要表现形式有： 鬼像（ Ghost ）：由光学表面的多次反射光形成。 散射光线。来源自光学元件，机械表面（主要来源） ： 镜头外壳，固定支架，遮光罩，拦光挡片等。 遮光罩使用不当出现的漏光。 杂散光的其它来源： 衍射：由遮光罩边缘引起的衍射；另外，由于衍射元件通常只处理一阶衍射，其余阶就成为杂散光的 来源了。 Lyout 光栏是天文望远镜中消除衍射效应的典型器件。 热效应：探测器因环境因素，或机械结构和系统硬件引起的热效应而产生杂散信号。 杂光（ Veiling Glare ）是到达成像系统传感器的杂散光，会导致成像系统性能的衰减。杂光主要有两种成 分：散射光和鬼像。一次反射鬼像影响最大的是高功率激光系统，二次反射鬼像主要影响成像系统和红外 系统。鬼像又分鬼像焦点像（ ghost focus images ）和鬼像光瞳像（ Ghost pupil images ）。前者是由物面 形成的，后者由光瞳形成的。由于光瞳是系统全视场能量积分处，所以其影响可能也会很大。对于高功率 激光系统而言，除了要避免成像光路形成的内焦点，还要避免鬼像光路形成的鬼像内焦点。 鬼像分析可分为轴上点近轴光路分析和照明方式的分析。前者就是用成像软件进行鬼像光路分析完成。照 明方式分析，实际就是采用商用照明软件所使用的 二叉树“ ”（分裂光线）方法完成。一般而言，应用成像 软件进行鬼像光路分析，还可以优化光学系统结构，比如： ZEMAX 、CODE V ；照明可以完成杂光系数分 析，当然，有一些照明软件也可以优化机械结构，比如