TEM样品的制备方法及注意事项。.docxVIP

标准 标准 文 文案 第一节概述 由于电子束的穿透水平比拟低〔散射水平强〕,因此用于 TEM分析的样品厚度 要非常薄,根据样品的原子序数大小不同,一般在 5?500nm之间.要制备这样 薄的样品必须通过一些特殊的方法. ＞复型技术 护化学I*光 ＞舸抛光法 ＞解體和趣薄切片 ＞多层膜祥品的载面样品制备方法 ＞粉末样品的包埋法 ＞ FIB 〔豎焦离子束〕方袪〔Focusing Ian Bean〕 ■电饒样品制备的 拝品制 拝品制馆对于获得TSSmffiJ电子显8J 显至关重要的. ■对于从事电子長微学研顽科技工作新不仅要了解和拿1E电後的结构和工 作匱理,而且应该拿握样品制笛船基專技术. ■电锻