射线粉末衍射仪的聚焦原理.pdfVIP

X 射线粉末衍射仪的聚焦原理 引言 粉末衍射仪是以特征 X 射线照射粉末样品，并以辐射探测器记录衍射信息 的衍射实验装置，具有操作方便、处理快速、测量准确和数据自动处理等诸多优 点，目前已经基本取代了照相法，成为材料晶体结构分析中最基本的分析方法之 一。 在阐述 X 射线粉末衍射仪的工作原理时，最大的难点是如何理解当具有一 定发散度的线状 X 光束照射平板状多晶样品时，样品中的中同名衍射线在衍射 仪赤道平面出现衍射线强峰的现象，即聚焦几何问题。 1． 问题的提出： 在晶体材料中，凡具有相同晶面间距的晶面组称之为等同晶面，所有等同晶 面参与 X 射线衍射时，具有完全相同的衍射结果。 图 1 为 X 射线粉末衍射仪的结构示意图。由狭缝 S 发出的线状 X 光束具有 一定的发散度，照射到平板状多晶样品上时，在接收光栏 F 处将检测到由满足 衍射矢量方程的同名晶面及其等同晶面组所产生的衍射线因聚焦而形成的衍射 线强峰。 对此现象的合理解释是： X 射线粉末衍射仪采用具有一定发散度的线状