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电子科技大学 实 验 指 导 书 《现代时域测试》实验 1 数字存储示波器的使用和指标测试 一． 实验目的 1.熟悉数字存储示波器基本工作原理 2.熟悉数字存储示波器的主要技术指标 3.熟练掌握数字示波器的使用方法 4.掌握相关指标的测试方法 二． 实验内容 1.边沿、脉宽等触发类型的使用 2.触发释抑功能的使用 3.预触发与延迟触发功能的使用 4.脉冲参数的测量 5.获取模式（普通、峰值、平均）的使用 6.触发方式（自动、正常、单次）的使用 7.带宽的测量 三． 预备知识 1.了解数字存储示波器原理 2.熟悉数字存储示波器主要指标测试方法。 四． 实验设备与工具 测试技术与嵌入式系统综合实践平台、数字存储示波器、信号源 五． 实验原理与说明 1.实验平台模块简介 本实验平台结构框图如图 1 所示，输入信号首先经过信号调理模拟通道， 进行适当的放 大或衰减， 调理至 ADC 的输入范围后送到采集模块； 采集模块将模拟的信号进行数字量化， 1 转换成 8bit 的数据流送至 FPGA 进行缓冲存储， 其中 FPGA 为 ADC 提供 250MHz 的采样时钟， FPGA 内部实现触发功能、高速数据的接收和缓冲，并与处理模块实现接口互连，将量 化的二进制数据送至处理模块；处理模块包括 DSP、SDRAM 、 FLASH 存储器、异步串行 接口、 USB 接口、键盘接口、显示接口等，将转换的二进制数据进行处理并送 LCD 显示； 另外，本实验平台包括一 DMM 模块，和处理板相连接，能够实现数字万用表的电压测量、 电阻测量、二极管测量、电容测量等。 信号调理模拟通道 采集模块 处理模块 粗率减 ÷ 20 输入 阻抗 可变增益 带宽 缓冲 变换 放大器 控制 驱动 偏置调节 位移调整 去触发通道  扩展接口 显示接口 DMM模块 ADC 采样时钟 FLASH 粗率减 20 输入 阻抗 可变增益 带宽 缓冲 变换 放大器 控制 驱动 偏置调节 位移调整 FPGA DSP ADC  SDRAM 液晶屏 去触发通道 通道1信号 高速比较器 缓冲驱动 LVDS/PECL输出 通道2信号 模拟 耦合 多路选择器 交流信号 控制 外触发 键盘接口 RS232 USB 触发脉冲 比较电平 电源模块 键盘 图 1 测试技术与嵌入式系统综合测试实践平台 图 2 测试技术与嵌入式系统综合测试实践平台实物照片 2 2.边沿、脉宽等触发类型 边沿触发 edge trigger 按照边沿控制所定义的上升沿或下降沿触发。 边沿（ Edge）和触发电平（ Level ）用于定义边沿触发。边沿确定示波器是在波形的上升沿和 /或下降沿查找触发点；触发电平确定波形上发生触发的电压值。 脉冲宽度触发 pulse width trigger 基于指定脉冲宽度的相关条件来产生触发事件，如大于、小于、等于、不等于等条件。 3.触发释抑 触发释抑 trigger holdoff 在一个预置时间间隔（或事件数）内，抑制触发事件。 释抑时间 ① , ②分别表示不同的触发点。 , ⑵分别对应① , ②不同触发点所采集的波形。 触发释抑，波形稳定显示 图 3 触发释抑 4.预触发与延迟触发功能 预触发 /延迟触发 pre-trigger/delay-trigger 指能够以触发点为参考，灵活移动波形存储和显示窗口的一种能力。 通常，预触发指能够观测触发点前的波形； 延迟触发指能够观测触发点出现后延迟给定条件的（如采样点数、时间、事件）的波形。 5.脉冲参数 图4 电压类参数 3 图5 时间类参数 6.获取模式（普通、峰值、平均）的使用 获取模式 acquisition mode 示波器对信号进行采样、存储和处理的不同方式。 峰值检测模式 peak detection mode 在两个相邻水平显示像素所代表的时间间隔内， 获取并显示信号的最大值和最小值的一种获取模式。 平均模式 average mode 4 采集多幅波形， 对其所有相对触发点为同一时刻的采样点计算并显示平均值的一种获取模式。 7.触发方式（自动、正常、单次）的使用 正常触发 normal trigger 当触发事件产生时，示波器进行一次采集、处理与显示，然后等待下一次触发。 自动触发 auto trigger 在一个预置时间间隔内，如果没有出现触发事件，将自动产生一个触发事件。 单次触发 single trigger 当触发事件产生时，示波器进行一次采集、处理与显示，然后停止。 8.带宽 带宽 bandwidth 示波器输入不同频率的等幅正弦信号时， 显示屏上对应基准频率的显示幅度随频率变化而下降 3dB时，其下限到上限频率的范围。 六． 实验步骤 1.边沿、脉宽等触发类型的使用 边沿触发： （实验平台） 连接信