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GB/T 41064-2021表面化学分析　深度剖析　用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法.pdf

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  • 约 20页
  • 2022-02-08 发布于四川
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  • 正在执行有效期
  •   |  2021-12-31 颁布
  •   |  2022-07-01 实施

GB/T 41064-2021表面化学分析　深度剖析　用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法.pdf

    ICS71.040.40 CCSG04 中华人 民共和 国国家标准 / — / : GBT41064 2021ISO171092015 表面化学分析 深度剖析 用单层和 、 多层薄膜测定 射线光电子能谱 俄歇 X 电子能谱和二次离子质谱中深度剖析 溅射速率的方法 — — Surfacechemicalanalsis Deth rofilin Methodforsutterrate y p p g
    GB/T 41064-2021表面化学分析　深度剖析　用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法.pdf 原文免费试下载

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