正确理解测量系统的再现性.docx

正确理解测量系统的再现性 在老版MSA 手册中，测量系统的再现性被定义为“用不同评价人使用相同的测量仪器对同一产品上的同一特性，进行测量所得的平均值的变差 （Variation）”，因为这个定义，再现性用 AV（Appraiser Variation）表示。新版（第三版，2002 年 3 月发布）MSA 手册参考了 ASTM（美国材料试验学会）对测量系统再现性的定义，明确了测量系统的再现性是指测量的系统之间或条件之间的平均值变差（Variation）。按照这个新的定义中， 测量系统的再现性所考察的是不同测量系统之间或不同测量条件之间的测量平均值变差。测量系统并非只包括测量设备，而是包括人（评价人）、机（测量设备）、料（测量基准件）、法（测量方法）、环（测量环境）以及测量标准等因素。因此，同一评价人用不同的测量仪器对同一产品上的同一特性，进行测量所得的平均值的变差也是属于测量系统的再现性范畴。 TS16949 中条款 7.6.1 测量系统分析要求对每种测量和试验设备系统得出的结果中出现的变差进行统计研究，也就是进行测量系统分析。这里要求进行的分析是针对测量系统的。 案例：某工厂生产线束，其中有道工序是在压接机上压接线束的端子，生产车间有多台压接机进行线束端子的压接。端子的压接高度是一个重要的过程特性。为此，每台压接机都专门配备了数显式千分尺进行测量。在这个典型的案例中，我们到