纳米粒子粒径评估方法.pptxVIP

会计学;;几个基本概念;几个基本概念;5.1 常用的方法粒径评估的方法;透射电镜观察法 ;透射电镜观察法 ;透射电镜的结构;;;高分辨透射电子显微镜;透射电镜观察法 ;;透射电镜观察法注意的问题 ;射线衍射线线宽法(谢乐公式);;射线衍射线线宽法(谢乐公式);谢乐公式计算晶粒度时注意的问题;;这说明制备的粒子是纳米级晶粒。 可根据谢乐公式计算粒子尺寸。 d =0.89*λ/Bcosθ 或 d =0.89*λ/（B-B0）cosθ 计算半峰宽要使用弧度，2θ转化为θ。 0.386 o ---------0.00674 0.451 o --------0.00787 计算晶粒粒径时要求2θ，小于50 o。 d1=21.1（nm） d2=18.3（nm） d=（d1+d2）/2=19.7(nm);3 比表面积法;3 比表面积法;把Vm换算成吸附质的分子数(Vm/Vo·NA)乘以一个吸附质分子的截面积Am，即可用下式计算出吸附剂的表面积S ： 式中，Vo为气体的摩尔体积；NA为阿伏伽德罗常量． 固体比表面积测定时常用的吸附质为N2气。一个N2分子的截面积一般为0.158nm2． 为了便于计算，可把以上3个常数合并之，令Z=NA Am／Vo．于是表面积计算式便简化为 S = Z Vm = 4.25Vm． 因此，只要求得Vm，代人上式即可求出被测固体的表面积. ;4 X射线小角散射法;5 拉曼(Raman)散射法;6 探针扫描显微镜 ;6.1扫描隧道显微镜（STM）;6.1扫描隧道显微镜（STM）;;6.2 原子力显微镜的基本原理;;;;;;原子力显微镜的硬件结构;;位置检测部分;;反馈系统;反馈系统;7 激光粒度分析法;光子相关谱;光子相关谱;7 激光粒度分析法 ;7 激光粒度分析法;7 激光粒度分析法 ;