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关于正畸投影测量 第1页，共37页，编辑于2022年，星期一 第2页，共37页，编辑于2022年，星期一 X线头影测量是测量X线头颅侧位定位片所得的影象，对牙颌、颅面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析，从而了解牙颌、颅面软硬组织的结构，使对牙颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去 第3页，共37页，编辑于2022年，星期一 X线头影测量的主要应用 1、研究颅面生长发育 2、牙颌、颅面畸形的诊断分析 3、确定错合畸形的矫治设计 4、矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化 5、外科正畸的诊断和矫治设计 第4页，共37页，编辑于2022年，星期一 描图 软硬组织侧貌、上下颌骨轮廓、颅底颅后部轮廓、筛板、蝶鞍轮廓、蝶骨斜坡、翼上颌轮廓、枕骨大孔前缘、枢轴齿状突、眶侧缘和下缘、上下中切牙和上下第一恒磨牙 第5页，共37页，编辑于2022年，星期一 第6页，共37页，编辑于2022年，星期一 常用的x线头影测量标志点 第7页，共37页，编辑于2022年，星期一 3 * * 第8页，共37页，编辑于2022年，星期