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- 2022-04-23 发布于四川
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X射线光电子能谱(XPS) 聊城大学 赵笛 XPS的基本原理 XPS是一种基于光电效应的电子能谱,它是利用X射线光子激发出物质表面原子的内层电子,通过对这些电子进行能量分析而获得的一种能谱。 这种能谱最初是被用来进行化学分析,因此也叫做化学分析电子能谱(ESCA)。 XPS的基本原理 在实验时样品表面受辐照损伤小,XPS是用X射线光子激发原子的内层电子发生电离,产生光电子,这些内层能级的结合能对特定的元素具有特定的值,因此通过测定电子的结合能和谱峰强度,可鉴定除H 和He(它们没有内层能级)之外的全部元素以及元素的定量分析,并具有很高的绝对灵敏度。 XPS的用途 元素的定性分析。可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。 元素半定量分析。根据能谱图中光电子谱线强度(光电子峰的面积)反应原子的含量或相对浓度 。 固体表面分析。包括表面的化学组成或元素组成,原子价态,表面能态分布,测定表面电子的电子云分布和能级结构等 。 XPS的用途 化合物的结构。可以对内层电子结合能的化学位移精确测量,提供化学键和电荷分布方面的信息 。 分子生物学中的应用。例如:利用XPS鉴定维生素B12中的少量的Co 。 电子能谱仪 电子能谱仪主要由激发源、电子能量分析器、探测电子的监测器、真空系统等。 激发源 激发源通常有:X射线源、
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