数字电子技术实验指导书.docxVIP

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数字电子技术实验指导书 (韶关学院自动化专业用) 自动化系2014 年 1 月 10 日 实验室:信工 405 数字电子技术实验必读 本实验指导书是根据本科教学大纲安排的,共计 14 学时。第一个实验为基础性实验,第二和第七个实验为设计性实验,其余为综合性实验。本实验采取一人一组,实验以班级为单位统一安排。 学生在每次实验前应认真预习,用自己的语言简要的写明实验目的、实验原理,编写预习报告,了解实验内容、仪器性能、使用方法以及注意事项等, 同时画好必要的记录表格,以备实验时作原始记录。教师要检查学生的预习情况,未预习者不得进行实验。 学生上实验课不得迟到,对迟到者,教师可酌情停止其实验。 非本次实验用的仪器设备,未经老师许可不得任意动用。 实验时应听从教师指导。实验线路应简洁合理,线路接好后应反复检查,确认无误时才接通电源。 数据记录 记录实验的原始数据,实验期间当场提交。拒绝抄袭。 6.实验结束时,不要立即拆线,应先对实验记录进行仔细查阅,看看有无 遗漏和错误,再提请指导教师查阅同意,然后才能拆线。 7.实验结束后,须将导线、仪器设备等整理好,恢复原位,并将原始数据 填入正式表格中,经指导教师签名后,才能离开实验室。 目录实验 1 TTL 基本逻辑门功能测试实验 2 组合逻辑电路的设计 实验 3 译码器及其应用 实验 4 数码管显示电路及应用 实验 5 实验 6 实验 7 数据选择器及其应用同步时序逻辑电路分析计数器及其应用 实验 1 TTL 基本逻辑门功能测试一、 实验目的 1、熟悉数字电路试验箱各部分电路的基本功能和使用方法 2、熟悉 TTL 集成逻辑门电路实验芯片的外形和引脚排列 3、掌握实验芯片门电路的逻辑功能 二、 实验设备及材料 数字逻辑电路实验箱,集成芯片 74LS00(四 2 输入与非门)、74LS04 (六反相器)、74LS08(四 2 输入与门)、74LS10(三 3 输入与非门)、74LS20(二 4 输入与非门)和导线若干。 三、 实验原理 1、数字电路基本逻辑单元的工作原理 数字电路工作过程是数字信号,而数字信号是一种在时间和数量上不连续 的信号。 (1)反映事物逻辑关系的变量称为逻辑变量,通常用“ 0”和“1”两个基本符号表示两个对立的离散状态,反映电路上的高电平和低电平,称为二值信息。 (2)数字电路中的二极管有导通和截止两种对立工作状态。三极管有饱和、截止两种对立的工作状态。它们都工作在开、关状态,分别用“1” 和“0”来表示导通和断开的情况。 在数字电路中,以逻辑代数作为数学工具,采用逻辑分析和设计的方 法来研究电路输入状态和输出状态之间的逻辑关系,而不必关心具体的大小。 2、TTL 集成与非门电路的逻辑功能的测试 TTL 集成与非门是数字电路中广泛使用的一种逻辑门。实验采用二 4 输入与非门 74LS20 芯片,其内部有 2 个互相独立的与非门,每个与非门有 4 个输入端和 1 个输出端。74LS20 芯片引脚排列和逻辑符号如图 2-1 所示。 图 2-1 74LS20 芯片引脚排列和逻辑符号 与非门的逻辑功能是:“输入信号只要有低电平,输出信号为高电平;输入信号全为高电平,输出则为低电平”(即有 0 得 1,全 1 得 0)。 在测试与非门的逻辑功能时,输入端接至逻辑拨位开关,开关向上为逻辑“1”,相应灯亮;开关向下为逻辑“0”,相应灯不亮。输出端接发光二极管显示,亮为逻辑“1”,不亮则为逻辑“0”。 四、 实验内容 实验逻辑门集成芯片插在扩展板上。芯片 Vcc 电源为+5V,“GND”为地。74LS20芯片按图 2—1 所示连接,二进制的输入端 A、B、C、D 接逻辑拨位开关,灯亮为高电平逻辑“1”,灯灭为低电平逻辑“0”,输出端 Y 接发光二极管显示。按照真值表逐项测试。但是,对于 74LS20 芯片有 4 个输入端的与非门,有 16 个最小项,根据与非门的逻辑功能,只要按表 2—1 所示的 5 项进行测试,便能判断与非门的逻辑功能是否正常。 输入端输出 输入端 输出 端 B C D Y 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 0 1 1 1 0 同理,测试集成逻辑门芯片 74LS00、74LS04、74LS08、74LS10,分别自拟真值表,记录实验状态,总结各逻辑门的逻辑功能。 五、 预习要求 复习 TTL 集成逻辑门的有关内容,认真阅读使用 TTL 门的注意事项。 了解数字电路实验箱的结构、功能及使用方法。 写出集成芯片 74LS00(四 2 输入与非门)、74LS04(六反相器)、74LS08(四 2 输入与门)、74LS10(三 3 输入与非门)、74LS20(二 4 输入与非门)的真值表。 六、 实验报告

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