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模拟电路实验——常用电子仪器的使用 1、函数信号发生器 2、双踪示波器 　　3、交流毫伏表 四、实验内容 1、用机内校正信号对示波器进行自检。 1) 扫描基线调节 将示波器的显示方式开关置于“单踪”显示（Y1或Y2），输入耦合方式开关置“GND”，触发方式开关置于“自动”。开启电源开关后，调节“辉度”、“聚焦”、“辅助聚焦”等旋钮，使荧光屏上显示一条细而且亮度适中的扫描基线。然后调节“X轴位移”（）和“Y轴位移”()旋钮，使扫描线位于屏幕中央，并且能上下左右移动自如。 2）测试“校正信号”波形的幅度、频率 将示波器的“校正信号”通过专用电缆线引入选定的Y通道（Y1或Y2），将Y轴输入耦合方式开关置于“AC”或“DC”，触发源选择开关置“内”，内触发源选择开关置“Y1”或“Y2”。调节X轴“扫描速率”开关（t/div）和Y轴“输入灵敏度”开关（V/div），使示波器显示屏上显示出一个或数个周期稳定的方波波形。 　　a. 校准“校正信号”幅度 将“y轴灵敏度微调”旋钮置“校准”位置，“y轴灵敏度”开关置适当位置，读取校正信号幅度，记入表1－1。 表1－1 标 准 值 实 测 值 幅度 Up-p(V) 频率 f(KHz) 上升沿时间 μS 下降沿时间 μS 注：不同型号示波器标准值有所不同，请按所使用示波器将标准值填入表格中。 b. 校准“校正信号”频率 将“扫速微调”旋钮置“校准”位置，“扫速”开关置适当位置，读取校正信号周期，记入表1－1。 c． 测量“校正信号”的上升时间和下降时间 调节“y轴灵敏度”开关及微调旋钮，并移动波形，使方波波形在垂直方向上正好占据中心轴上，且上、下对称，便于阅读。通过扫速开关逐级提高扫描速度，使波形在X轴方向扩展（必要时可以利用“扫速扩展”开关将波形再扩展10倍），并同时调节触发电平旋钮，从显示屏上清楚的读出上升时间和下降时间，记入表1－1。 2、用示波器和交流毫伏表测量信号参数 调节函数信号发生器有关旋钮，使输出频率分别为100Hz、1KHz、10KHz、100KHz，有效值均为1V（交流毫伏表测量值）的正弦波信号。 改变示波器“扫速”开关及“Y轴灵敏度”开关等位置，测量信号源输出电压频率及峰峰值，记入表1－2。 表1－2 信号电压频率 示波器测量值 信号电压 毫伏表读数 （V） 示波器测量值 周期（ms） 频率（Hz） 峰峰值（V） 有效值（V） 100Hz 1KHz 10KHz 100KHz 3、测量两波形间相位差 　　1) 观察双踪显示波形“交替”与“断续”两种显示方式的特点 　　Y1、Y2均不加输入信号，输入耦合方式置“GND”，扫速开关置扫速较低挡位（如0.5s／div挡）和扫速较高挡位（如5μS／div挡），把显示方式开关分别置“交替”和“断续”位置，观察两条扫描基线的显示特点，记录之。 2) 用双踪显示测量两波形间相位差 ①　按图1－2连接实验电路，将函数信号发生器的输出电压调至频率为1KHz，幅值为2V的正弦波，经RC移相网络获得频率相同但相位不同的两路信号ui和uR，分别加到双踪示波器的Y1和Y2输入端。 为便于稳定波形，比较两波形相位差，应使内触发信号取自被设定作为测量基准的一路信号。 图 1－2 两波形间相位差测量电路 ②把显示方式开关置“交替”挡位，将Y1和Y2输入耦合方式开关置“⊥”挡位，调节Y1、Y2的（　 ）移位旋钮，使两条扫描基线重合。 ③将Y1、Y2 输入耦合方式开关置“AC”挡位，调节触发电平、扫速开关及 Y1、Y2 灵敏度开关位置，使在荧屏上显示出易于观察的两个相位不同的正弦波形ui及uR，如图1－3所示。根据两波形在水平方向差距X，及信号周期XT，则可求得两波形相位差。 图 1－3 双踪示波器显示两相位不同的正弦波 　 　　式中： XT—— 一周期所占格数 　　　　　 X—— 两波形在X轴方向差距格数 记录两波形相位差于表1－3。 表1－3 一周期格数 两波形 X轴差距格数 相 位 差 实 测 值 计 算 值 XT＝ X＝ θ＝ θ＝ 为数读和计算方便，可适当调节扫速开关及微调旋钮，使波形一周期占整数格。 　 五、实验总结 　　1、 整理实验数据，并进行分析。 　　2、 问题讨论 　　1）如何操纵示波器有关旋钮，以便从示波器显示屏上观察到稳定、清晰的波形？ 2)　用双踪显示波形，并要求比较相位时，为在显示屏上得到稳定波形，应怎样选择下列开关的位置？ 　　a) 显示方式选择（Y1；Y2；Y1＋Y2；交替；断续） 　　b)　触发方式（常态；自动） 　　c)　触发源选择（内；外） 内触发源选择（Y1、Y2、交替） 3、函数信号发生器有