实验一：TTL各种门电路功能测试实验.docxVIP

实验一 TTL 各种门电路功能测试实验 一、实验目的： 1、熟悉 TTL 各种门电路的逻辑功能及测试方法。 2、熟悉万用表的使用方法。 二、实验设备及器件 1、实验设备 （1）SAC-DS4 数字逻辑实验箱 （2） 数字万用表 1 个 1 块 2、器件 （1）74LS20 双四输入与非门 （2）74LS02 四二输入或非门 （3）74LS51 双 2-3 输入与或非六 （4）74LS86 四二输入异或门 （5）74LS00 四二输入与非门 三、实验内容与步骤 1 片 1 片 1 片 1 片 2 片 1、与非门逻辑功能测试 用 74LS20 双四输入与非门进行实验，其引脚图见附录 （1）按图 1-1 接线测试 （2）按表 1-1 要求用开关改变输入端 A、B、C、D 的状态，借 助指示灯和万用表，把测试结果填入表 1-1 中 表 1-1 输 入 输出电压（V） 输出逻辑状态 A 0 0 0 0 1 B C D 0 1 1 1 1 0 0 0 1 1 0 0 1 1 1 2、或非门逻辑功能测试 用 74LS02 二输入四或非门进行实验，其引脚图见附录 （1）按图 1-2 接线测试 （2）按表1-2 的要求用开关改变输入量 A、B 的状态，借助指示灯和 万用表观测各相应输出端 F 的状态，并将测试结果填入表 1-2 中 表 1-2 输 入 输出电压（V） 输出逻辑状态 A 0 0 1 1 B 0 1 0 1 3、或非门逻辑功能测试 用 74LS51 双 23 输入与或非门进行实验 （1）图 1-3 接线测试 图 1-3 （2） 按表 1-3 要求用开关改变输入量 A、B、C、D 的状态，借助指 示灯和万用表观测各对应输出端 F 的状态，并把测试结果记入表1-3 中。 表 1-3 输 入 A 0 0 0 0 1 B C D 0 1 1 1 1 0 0 0 1 1 0 0 1 1 1 4、或门逻辑功能测试 用 74LS86 二输入四异或门进行实验，其引脚图见附录 （1）按图 1-4 接线测试 图 1-4 （2）表1-4 要求用开关改变输入量 A、B 状态，借助指示灯和万用表 观测各对应输出端 F 的状态，并把测试结果填入表 1-4 中。表 1-4 输 入 输出电压（V） 输出逻辑状态 A 0 0 1 1 B 0 1 0 1 5、利用 74LS00 与非门实现“与电路”、“或电路”“或非电路”、“异 或电路”，要写出各种电路的逻辑表达式和真值表，画出逻辑图并在 实验仪上加以验证。 四、实验要求 1、将实验结果填入各相应表中。 2、分析各门电路的逻辑功能。 3、回答下理问题 （1）与非门一个输入端接连续脉冲，其余端是何状态允许脉冲通过， 是何状态禁止脉冲通过？ （2）为什么异或门又称可控反相门？ 4、独立完成实验，交出完整的报告。