高电压课程试验部分.pptVIP

如果绝缘受潮，则电压较低时， 就已经相当大，电压升高时， 更 将急剧增大；电压回落时， 也要比电压上升时更大一些，因而形成了不闭合的分叉曲线。 4）试品电容量的影响：对于电容量较小的试品， 测量能有效的发现局部集中性缺陷和整体分布性缺陷。但对电容量较大的试品， 测量只能发现整体分布性缺陷，此时要把它分解成几个彼此绝缘部分的被试品，分别测量各部分的 值，能有效的发现缺陷。 5）试品表面泄漏的影响：由于试品表面泄漏电阻总是与试品等值电阻 相并联，所以会影响 值。为了排除或减小这种影响，在测试前应先清楚绝缘表面的积污和水分，必要时还可以在绝缘表面上装设屏蔽极。 第29页，共65页，编辑于2022年，星期四 一 序言 电器绝缘内部存在缺陷是难免的，例如固体绝缘中的空隙、杂质，液体绝缘中的气泡等。这些空隙及气泡中或局部固体绝缘表面上的场强达到一定值时，就会发生局部放电。这种放电只存在于绝缘的局部位置，而不会立即形成贯穿性通道，称为局部放电。 局部放电试验的目的是发现设备结构和制造工艺的缺陷。例如：绝缘内部局部电场强度过高；金属部件有尖角；绝缘混入杂质或局部带有缺陷产品内部金属接地部件之间、导电体之间电气连接不良等，以便消除这些缺陷，防止局部放电对绝缘造成破坏。 测量局部放电试验的内容包括测量视在