SEM-CL时间分辨精细阴极荧光分析系统 中文样本.pdfVIP

时间分辨精细阴极荧光分析系统 SEM-CL 时间分辨精细阴极荧光分析系统是由瑞 士attolight 公司设计并制造的，并获得RD top100 创新大奖。它是： • 世界上唯一实现定量测量的阴极荧光分析系统 SEM-CL • 300um 直径的视场 • 优于10nm 的空间分辨率 • 10ps 的时间分辨率 • Schottky 场发射枪（连续系统）和皮秒脉冲光 电枪（时间分辨模式） • 样品温度范围：20K-300K，位移精度1nm 高性能光学与SEM 系统： 简单易用，大视野，高分辨 Attolight SEM-CL 系统自带有集成了光镜的扫描电子显微镜 （10nm 空间分辨率）。光镜被嵌入在扫描电镜的电子物镜，使 两者的视场相互匹配。获取阴极荧光图从未如此简单：无需调 准光路，光镜的存在帮助完成了样品定位。系统经过优化，在 不牺牲扫描电镜性能的同时获得了优越的阴极荧光性能。它提 供了一个优秀的光学光圈 (f/0.5)，和在整个视场范围内恒定 的高光子收集效率。同时，它工作在低电子束的能量范围内 (3-10kV)，可获得更高分辨的阴极荧光图。 Schottky 场发射电子枪和皮秒脉冲光电子枪： 连续工作模式和时间分辨工作模式 电子枪类型是决定电镜性能的重要参数。attolight SEM-CL 采用特殊设计的肖特基（Schottky）场发射电子枪， 提供高亮度高相干的电子束，在样品上产生的荧光空间分 辨率好于10nm。 Attolight SEM-CL 系统还是第一个具有时间分辨选项 的阴极荧光分析系统，可实现无与伦比的10ps 的时间分辨 率。时间分辨的阴极荧光分析系统将是研究光电材料载流 子动力学和寿命的完美工具。 时间和光谱分辨的氮化硼阴极荧光 ZnO 纳米线上不同区域的荧光寿命研究 纳米结构在不同波长下的荧光发射区域变化 定量测量阴极荧光发光 Attolight SEM-CL 系统是世界上唯 一能实现定量测量不同样品的阴极荧光 发光的系统。受益于独特的设计，它能够 甄别并发现超痕量杂质，以及某些在其他 成像模式下不可见的晶体缺陷的能力，为 研究及开发半导体材料、荧光粉、陶瓷、 岩石和玻璃提供了新的可能。 GaN 表面 TD 观测 太阳能板表面 TiO2 纳米颗粒观测 工作模式： 应用领域： – LED 的性能和可靠性 – 光学显微镜成像 – GaN 功率晶体管 – 阴极荧光测绘（多色，单色和高光谱） – 线位错密度(TDD) – 二次电子测绘 – 载流子寿命和动力学 – 时间分辨阴极荧光（时间分辨选项） –太阳能电池的效率 – 二次电子和阴极荧光同步测绘 –纳米尺度光电器件的研发 应用案例： ZnO 纳米线-阴极荧光光谱分析 量子点异