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管理体系文件 文件名称：光纤型式试验方法文件编号： 版本号：A.1页 数：18 生效日期： 编制部门：光纤生产技术部文件需发放部门 □营销部□研发部口光纤生产技术部口设备部口物控部 □营销部 □研发部 口光纤生产技术部 口设备部 口物控部 口质保部 □光棒生产部 口工程部 口人力资源行政部 □ IT部□财务部 □ IT部 编制 审核 批准 日期 管理体系文件 文件编号 题目：光纤型式试验方法 版本号 A. 1 页.数 7/2 6相关记录 6.1《光纤抗拉强度试验记录表》 管理体系文件 文件编号 题目：光纤型式试验方法 版本号 A. 1 页.数 8/2 光纤干热试脸方法 1范围 用来具体指导干热老化附加衰减试验，对抽样光纤进行30天的85c高温环境下进行老化，并对 由干热老化而引起的附加衰减进行试验。适用于青海中利光纤技术有限公司实验室内进行光纤干热老 化附加衰减试验。 2引用文件《环境性能的测量程序和试验方法-干热》GB/T 15972.51-2008 3职责 所有在实验室内用Partner高低温试验箱进行光纤干热老化附加衰减试验的人员必须遵循本方 法。 4仪器设备及工具OTDR、Partner高温干燥箱、样品绕圈机、滑石粉 5试验过程 取长度大于2100m的光纤，用样品绕圈机将样品绕成直径约为250mm的松散线圈，将这些松散的 光纤打上滑石粉，使得光纤都相互不黏结，呈非常松散的状态，放置在高温干燥箱内，将光纤的两端 从高温干燥箱的后面试验口引出，然后用软塞将试验口堵住，注意不要弄断光纤。 打开试验箱电源，点击触摸屏进入图1的操作界面，选择DRY85进入高温老化试验程序。 5. 3高温干燥箱的程序设置为不控制的85。。高温加热。在加热过程中，分别在加热前和加热后的第1 天、第10天、第20天、第30天用OTDR测试1310nm和1550nm的波长衰减。加热前和最后一天试验 点的温度应为23℃,其余的均为85℃。 干热后的光纤取样做剥离力试验。 管理体系文件 文件编号 题目：光纤型式试验方法 版本号 A. 1 页.数 9/2 6相关记录 6.1《光纤干热试验附加衰减记录表》10 管理体系文件 文件编号 题目：光纤型式试验方法 版本号 A. 1 页.数 10/2 光纤高温高湿试脸方法 1范围 用来具体指导温湿度老化附加衰减试验，对抽样光纤进行85℃, 85%的高温高湿环境下老化，并对 由高温高湿老化而弓I起的附加衰减进行试验。适用于青海中利光纤技术有限公司实验室内进行光纤高温 高湿老化附加衰减试验。 2引用文件 《环境性能的测量程序和试验方法-恒定湿热》GB/T 15972. 50-2008 3职责所有在实验室内用高低温试验箱进行光纤高温高湿老化附加衰减试验的人员必须遵循本方法。 4仪器设备及工具0TDR、高低温试验箱、样品绕圈机、滑石粉 5试验过程 取长度大于2100m的光纤作为样品，用样品绕圈机将样品绕成直径约为250nlm的松散线圈，将这些 松散的光纤打上滑石粉，使得光纤都相互不黏结，呈非常松散的状态，放置在高低温环境试验箱内，将 光纤的两端从实验箱的侧面试验口引出，然后用软塞将试验口堵住，注意不要弄断光纤。 打开试验箱电源，点击触摸屏进入图1的操作界面，选择WET进入高温高湿老化试验程序。 ￡ 图 ￡ 图2》旧操作界面 试验箱的程序设置为85℃, 85%的高温高湿环境。分别在加热前和加热后的第10天、第20天、第30 天，用0TDR测试1310nm和1550nm波长处衰减.试验结束取样做剥离力试验。 6 相关记录 《光纤高温高湿试验附加衰减记录表》11 管理体系文件 文件编号 题目：光纤型式试验方法 版本号 A. 1 页.数 11/2 光纤温度循环试验方法 1范围 用来具体指导温度循环附加衰减试验，对抽样光纤按图3中所示的步骤进行-60C至85C的温度循 环，并对由温度循环而引起的附加衰减进行试验。适用于青海中利光纤技术有限公司实验室内进行光 纤温度循环附加衰减试验。 2引用文件《环境性能的测量程序和试验方法-温度循环》GB/T 15972. 52-2008 3职责所有在实验室内用Partner高低温试验箱进行光纤温度附加衰减试验的人员必须遵循本方法。 4仪器设备及工具0TDR、高低温试验箱、样品绕圈机、滑石粉 5试验过程 取长度大于2100m的光纤作为样品，用样品绕圈机将样品绕成直径约为250mm的松散线圈，将这 些松散的光纤打上滑石粉，使得光纤都相互不黏结，呈非常松散的状态，放置在高低温环境试验箱内, 将光纤的两端从实验箱的侧面试验口引出，然后用软塞将试验口堵住，注意不要弄断光纤。 打开试验箱电源，点击触摸屏进入图1的操作界面，选择TEM进入温度循环试验程序。 图1操作界面图2 图1操作界面 图2 TEM操作界