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主要内容 原子荧光光谱法发展概况 原子荧光光谱法的原理 原子荧光光谱分析专用仪器 原子荧光光谱法的应用 概 述 原子荧光光谱分析是20世纪60年代中期提出并发展起来的光谱分析技术,它是原子吸收和原子发射光谱的综合与发展,是一种优良的痕量分析技术。 氢化物—原子荧光(HG-AFS)是具有中国特色的分析技术 检测元素:As Sb Bi Ge Se Pb Te Sn Cd Zn Hg 原子荧光光谱法发展概况 优 势 检出限低、灵敏度高 谱线简单、干扰小 分析曲线线性好、线性范围宽 易实现多元素同时测定 可进行价态分析 原子荧光光谱法发展概况 应用领域 地质样品分析 冶金样品分析 生物样品分析 农业及植物样品分析 环境样品分析 食品分析 药材药品分析 轻工化妆品分析 原子荧光光谱法发展概况 标 准 目前已很多标准都建立在了原子荧光分析法基础之上: 相关标准 原子荧光光谱法发展概况 原子荧光光谱法的原理 原子荧光为光致发光,二次发光,激发光源停止时,再发射过程立即停止。 原子荧光的产生过程 原子荧光光谱法的应用原理 原子荧光 原子荧光的类型 常见共振荧光,非共振荧光与敏化荧光等三种类型。 (1)共振荧光:荧光线的波长与激发线的波长相同。 原子荧光光谱法的应用原理 (2)非共振荧光:荧光线的波长与激发线的波长不同。 ① 直跃线荧光 原子荧光的类型 原子荧光光谱法的应用原理 ② 阶跃线荧光 原子荧光的类型 原子荧光光谱法的应用原理 ③多光子荧光:两个或以上的光子共同使原子到达激发态, 然后再返回到基态所发射的荧光 (3)敏化荧光 受激发的原子与另一种原子碰撞时,把激发能传递给另一个原子使其激发,后者再从辐射形式去激发而发射荧光即为敏化荧光。 原子荧光的类型 原子荧光光谱法的应用原理 大多数分析涉及共振荧光,因为其跃迁几率最大且用普通光源就可以获得相当高辐射密度。 原子荧光的类型 原子荧光光谱法的应用原理 定量计算基础 If = k C If = φ Ia If—荧光强度 φ —为荧光量子效率 Ia —吸收光的强度 原子荧光光谱法的应用原理 仅适用于低浓度样品的原子荧光光谱分析 氢化物—原子荧光法原理 原子荧光 As Sb Bi Ge Se Pb Te Sn 气态氢化物 Cd Zn Hg 气态组分 原子蒸气 基态原子 原子荧光光谱法的应用原理 目视图 部分压接缺陷图 不好 bad 不到位: 未压到压皮不良 不好 bad 好 过位: 压皮压接太多 标准位置 */60 目视图 常见压着不良现象汇总表 */60 压接不良的返修作业步骤及要求 返修前须知: 产品在返修前,作业员必须确认需返修品是否允许返修。主要确认其产品的电线长度,品质管理指示书上长度无下公差或要求严格的不允许返修。 作业员返修时必须做到单款不良品统一及时返修,返修品在原压着机台压着。 作业员返修时统一返修工具:剪刀(只用于剪齐芯线),剥线钳。 */60 目视图 返修剥皮工具 Stripping of Leads 不许使用剪刀进行导线剥皮! Don’t use scissors for stripping lead! 使用标准的剥皮工具! Use only correct stripping devices! 正确 Correct! 不好 bad */60 压接不良的返修作业步骤及要求 返修过程:(本公司主要有三类线的压着返修作业) 1、排线压着不良返修 2、屏蔽线压着不良返修 3、单线压着不良返修 */60 压接不良的返修作业步骤及要求 一、排线压着不良返修作业: 1、用剪刀将有不良端子的整端从端子压芯靠后端剪掉。 2、将剩余的压皮部位钳开。 3、用相应规格AWG的剥线钳钳口重新剥剥头。 (剥头长度以此产品品质管理的标准剥头长度为准) 4、对线材进行长度测量,是否满足公差范围; (长度达不到要求的须剔除,报废) 5、在原作业机台重新压接。 6、做好返修标识及返修记录 7、端检员检验确认。 8、流入下工序作业。 */60 压接不良的返修作业步骤及要求 排线 压着不良返修 作业图示 */60 特别说明!!! 第一次压着不良可直接从压芯处剪齐后剥皮重压。 压接不良的返修作业步骤及要求 注意: 排线不允许直接单芯返修超过两次以上,不允许将电线外皮作拉扯伸长处理。两次不良时必须将其它芯线的端子全部平齐剪掉一并重新压着,保证装配后不出现长短线与电线单根受力! 所有剥头平齐 不允许单芯单独返修两次以上。 不好 bad 正确 Corre
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