集成电路测试基础-14电压型运算放大器的基本原理及测试方法.pptx

集成电路测试基础——运算放大器基本原理及测试方法对于很多学习模拟电子技术的人来说，是能够认识前面的集成电路原理图的，它是uA741的原理图，uA741是第一个有内部补偿的运算放大器，诞生于1968年。至今仍然在使用。1972年，LM324诞生，四个运算放大器集成在一颗IC内部，至今仍在广泛使用。这一年，C语言也诞生了。在模拟电子技术领域，没有任何器件的重要性可以与运算放大器相比。模拟集成电路的教材，绝大部分篇幅在阐述如何设计一个运算放大器。随着集成电路的工艺的发展，运算放大器的参数越来越高，测试方法也逐渐不再通用。这里仍然使用国标的通用运放的测试方法，该方法仍然具有实际意义。一方面是通用运放仍然在广泛使用，另一方面是该方法的很多思路在其他电路测试中仍然在发挥作用。国标方法的测试电路如下图所示。VIO的测试电路：VIO是 Input Offset Voltage ，输入失调电压。理论上来说，运算放大器的两个输入端都接地时，输出为零。但实际会有一点偏差，在输入端的偏差，称为VIO利用同样的电路，改变输入端的电阻，来测量IIO。IIO即Input Offset Current，输入失调电流。测试思想：在输入端的值很小，那么就利用DUT本身的放大能力，再增加一级放大电路，将很小的输入值，放大到可测量的输出值。对于运算放大器的失调电压和失调电流都是可以从外部电路进行补偿。对于失调电压，经常采