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LK8810数模集成电路测试系统 实验手nn 目录 TOC \o 1-5 \h \z \o Current Document 一、实验的目的和意义 1 \o Current Document 二、主要仪器设备和耗材 1 \o Current Document 三、测试基本原理和方法 1 开短路测试 1 漏电流测试 1 功能测试 1 \o Current Document 四、SN74HC541介绍 1 \o Current Document 五、DUT接线图 4 \o Current Document 六、实验步骤 4 开短路测试 4 功能测试 6 \o Current Document 七、测试过程记录及说明 9 \o Current Document 八、测试参考程序 10 PAGE PAGE # 一、实验的目的和意义 通过对SN74HC541芯片的测试方法及测试程序的学习，学会使用LK8810测试机以及利用LK8810测试机编写程序并且完成芯片测试。 二、主要仪器设备和耗材 LK8810测试机、DUT板(SN74HC541)。 三、测试基本原理和方法 3.1.开短路测试 利用开尔文测试原理，通过在芯片管脚加入适当小电流，测试管脚的电压。主要测试芯片的每个管脚是否存在对地短路或者开路现象。 32漏电流测试 主要测试芯片在供电的时