少数载流子寿命测试.pdfVIP

第三章：少数载流子寿命测试 少数载流子寿命是半导体材料的一个重要参数，它在半导体发展之初就已经 存在了。早在20 世纪50 年代，Shockley 和 Hall 等人就已经报道过有关少数载 [1-4] 流子的复合理论 ，之后虽然陆续有人研究半导体中少数载流子的寿命，但由 于当时测试设备简陋，样品制备困难，尤其对于测试结果无法进行系统地分析。 因此对于少数载流子寿命的研究并没有引起广泛关注。直到商业需求的增加，少 数载流子寿命的测试才重新引起人们的注意。晶体生产厂家和IC 集成电路公司 纷纷