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傅立叶变换红外光谱法 主要优点 1. 信号“多路传输”,测定速度快,信噪比高; 2. 辐射通量大,灵敏度高,有利于测微量样品; 3. 极高的波数精确度,精确度可达0.01 cm-1 ; 4. 高分辩能力,最高达0.0023 cm-1,色散型为0.5 cm-1 ; 5. 光谱的数据化形式,有利于光谱存储,差减光 谱及光声光谱、漫反射光谱、反射吸收光谱等, 用普通色散型红外分光光度计难以测量某些光 密物质,如炭黑、煤、老化后的高聚物样品等, 傅立叶红外光谱可以得到精晰的光谱。 制样方法 1)气体——气体池 2)液体: ①液膜法——难挥发液体(bp80?C) ②溶液法——液体池 溶剂: CCl4 ,CS2常用。 3) 固体: ①研糊法(液体石腊法) ②KBr压片法 ③薄膜法 红外光谱的制样技术 样品的纯度、杂质、残留溶剂,制样的厚度、干燥性、均匀性和干涉条纹等可能使光谱失去有用的谱带信息,或出现本不属于样品的杂峰,导致错误的谱带识别。 一般可干燥研磨的样品均可用此法制样。最常用的是溴化钾,因为溴化钾在整个中红外区都是透明的。 制备方法: (1)将溴化钾和样品以200:1质量比 (2) 相混后仔细研磨 (3) 在4?108-6?108Pa下抽真空压成透明薄片。 (4)由于溴化钾易吸水,所以应事先把粉末烘 干,制成薄片后要尽快测量。 1 、卤化物压片法 测试 2、 薄膜法 (1)样品的厚度。一般定性工作需1至数微米。在定量工作中,对样品厚度的要求就更苛刻些。(样品过厚时,许多主要谱带都吸收到顶,彼此连成一片,看不出准确的波数位置和精细结构) (2)样品表面反射的影响。样品表面要粗糙些。(在谱带低频一侧,由于反射引起能量损失,造成谱带变形。反射对薄膜样品光谱的另一种干扰就是干涉条纹。这是由于样品直接透射的光和经过样品内、外表面两次反射后再透射的光存在光程差,所以在光谱中出现等波数间隔的干涉条纹。消除干涉条纹的常用方法是使样品表面要粗糙些。) (3)薄膜制备方法: 从高聚物溶液制备薄膜来测绘其红外光谱的方法比溶液法有更广泛的应用。 涂膜:a)将高聚物溶液(浓度一般为1%-4%)均匀地浇涂在玻璃板上,待溶剂挥发后,形成薄膜,即可用手或刮刀剥离。 b)在氯化钠晶片上直接涂上高聚物溶液制膜。膜制成后可连同晶片一起进行红外测试。这种制膜法在研究高聚物的反应时很适用。 热压成膜的方法: 对于热塑性的样品可将样品加热到软化点以上或熔融,然后在一定压力下压成适当厚度的薄膜。(在热压时要防止高聚物的热老化。为了尽可能降低温度和缩短加压时间,可以采用增大压力的办法。) (采用热压成膜或溶液铸膜制备样品时,要注意高聚物结晶形状的变化。 ) 1、红外光谱的定量分析原理 定量分析的基础是光的吸收定律(Lambert-Beer定律):A=k?c?l=log(1/T) 以吸光度法测量时,方法有峰高法和面积积分强度法,但仪器操作条件、参数都可能引起定量的误差。 峰高法的局限(1)不能反映出宽的和窄的谱带之间吸收的差异。 (2)从一种型号仪器获得的数据不能一成不变地运用到另一种型号的仪器上。 红外光谱的定量分析及应用 面积积分强度法 面积积分强度法是测量由某一振动模式所引起的全部吸收能量。峰面积的测量可通过FTIR计算机积分技术来完成。积分强度的数值大都由测量谱带的面积S得到: 2. 端基定量分析计算聚合物数均相对分子质量 两种不同相对分子质量PBT的红外光谱 A=k?c?l=log(1/T) 两种不同相对分子质量PBT红外光谱 -OH 3535cm-1,-COOH 3290cm-1 消光系数: kOH=113(mol.cm-1) kCOOH=150(mol.cm-1) Mr=2w/(E1十 E2) FTIR光谱法的优点在于它可以跟踪PBT加工过程中相对分子质量的变化。 注意:PE等不适用此法,甲基谱带可研究支化度 FT-IR可以把样品的光谱经模数转换储存起来,并按一定比例进行吸光度相减,再经数模转换得出差减光谱。 优点: (1)被减组分在两光谱中强度可以是任意的。 (2)如果差减光谱很弱,可以使纵坐标扩展,并进行平滑处理,或进行多次扫描、平均累加,提高信噪比。 (3)使用这种差减光谱技术可以不经物理分离而直接鉴定混合物的组分,甚至是微量的组分。 差减光谱技术 光谱差减技术可以用来分离混合物的红外光谱或检测样品的些微变化。例如,某一高聚物样品中含有少量的添加剂,则在任一波数的红外吸收可以表达为各组分的红外吸收之和: AT=AP+AX
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