更新题目片式电阻主要失效模式与失效机理.pptxVIP

会计学;片式电阻;片式电阻;失效机理分析; 结晶化速度随温度升高而加快。电阻膜在制备过程中会承受机械应力，使其内部结构发生畸变，膜层越薄，应力影响越显著。一般可采用热处理方法消除内部应力，残余内应力则可能在长时间使用中逐步消除，电阻阻值则可能因此发生变化。 结晶化过程和内应力消除过程均随时间推移而减缓，但不可能在使用期间终止。可以认为电阻在工作期间这两个过程近似恒定的速度进行。与它们有关的阻值变化约占原阻值的千分之几。;气体吸附与解吸 膜式???阻的电阻膜在晶粒边界上，或导电颗粒和粘结剂部分，总可能吸附非常少量的气体，它们构成了晶粒之间的中间层，阻碍了导电颗粒之间的接触，从而明显影响阻值。 合成膜片式电阻在常压下制成，在真空或低压工作时，将解吸部分附气体，改善了导电颗粒之间的接触，使阻值下降。同样，在真空中制成的热分解碳膜电阻直接在正常环境条件下工作时，因气压升高而吸附部分气体，使电阻值增大。如果将未刻的半成品预置在常压下适当时间，则会提高电阻成品阻值稳定性。 温度和气压是影响气体吸附与解吸的主要环境因素。对于物理吸附，降温可增加平衡吸附量，升温则反之。由于气体吸附与解吸发生在电阻体的表面，所以对膜式电阻的影响较为显著，阻值变化可达1% -- 2% 。;;有机保护层的影响 有机保护形成过程中，放出缩聚作用的挥发物或溶剂蒸汽。热处理过