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掩膜版上用于Stepper对准的套刻标记 第二十九页,共五十页,2022年,8月28日 掩膜版上的参照标记 第三十页,共五十页,2022年,8月28日 掩膜版的制备 通常采用电子束直写的方式把高分辨率的图形转印到掩膜版表面。 电子源产生的电子被加速并聚焦成形射到投影掩膜版上。电子束可以通过光栅扫描或矢量扫描的方式在掩膜版上形成图形。 掩膜版上的电子束胶在曝光显影后,通过湿法或干法刻蚀去掉不需要的铬层。 第三十一页,共五十页,2022年,8月28日 CAD设计、模拟、验证后由图形发生器产生数字图形 数字图形 ×4或×5投影光刻版(reticle) 投影式光刻 ×1掩膜版(mask)制作 接触式、接近式光刻 掩膜版制作 第三十二页,共五十页,2022年,8月28日 掩模版制作过程:是一个微纳加工过程 12. Finished 第三十三页,共五十页,2022年,8月28日 掩膜版缺陷 掩膜版上的缺陷会被复制到光刻胶层中,从而进一步复制到硅片上。制造好的掩膜版要进行大量测试来检查缺陷和颗粒。 掩膜版缺陷的来源可能是掉铬,表面擦伤,静电放电或灰尘颗粒。 第三十四页,共五十页,2022年,8月28日 第二讲 光学曝光技术 光学曝光的工艺过程 光学曝光的方式和原理 光刻胶的特性 光学掩膜的设计与制造 短波长曝光技术 大数值孔径与浸没式曝光技术 光学曝光分辨率增强技术 光学曝光的计算机模拟技术 其它光学曝光技术 厚胶曝光技术 LIGA技术 东南大学 · 南京 MEMS 教育部重点实验室 第三十五页,共五十页,2022年,8月28日 关于光学曝光技术 第一页,共五十页,2022年,8月28日 光刻工艺的基本要素 光源(light sources) 曝光系统(exposure system) 光刻胶(photoresist) 能量(光源): 引起光刻胶化学反应,改变光刻胶溶解速率; 掩膜版(mask): 对光进行掩膜,在光刻胶上制造掩膜版的图形; 对准系统(Aligner): 在硅片上把掩膜版和以前的图形对准; 光刻胶(Resist): 把图形从掩膜版转移到硅片; 衬底(substrate):具有以前的掩膜版图形。 第二页,共五十页,2022年,8月28日 光刻工艺的基本流程 第三页,共五十页,2022年,8月28日 第二章 光学曝光技术 光学曝光的工艺过程 光学曝光的方式和原理 光刻胶的特性 光学掩膜的设计与制造 短波长曝光技术 大数值孔径与浸没式曝光技术 光学曝光分辨率增强技术 光学曝光的计算机模拟技术 其它光学曝光技术 厚胶曝光技术 LIGA技术 东南大学 · 南京 MEMS 教育部重点实验室 第四页,共五十页,2022年,8月28日 (1)接触式光学曝光技术 东南大学 · 南京 MEMS 教育部重点实验室 优点:设备简单,分辨率高(约1 μm )。 缺点:掩模寿命短(10 ~ 20次),硅片上图形缺陷多,光刻成品率低。 第五页,共五十页,2022年,8月28日 (2)接近式光学曝光技术 东南大学 · 南京 MEMS 教育部重点实验室 优点:掩模寿命长(可提高10 倍以上),图形缺陷少。 缺点:衍射效应使分辨率下降。 第六页,共五十页,2022年,8月28日 (3)投影式光学曝光技术 投影式曝光的优点: 掩模寿命长。 可以在不十分平整的大晶片上获得高分辨率的图形。 掩模尺寸远大于芯片尺寸,使掩模制造简单,可减少掩模上的缺陷对芯片成品率的影响。 投影式曝光的缺点:设备复杂、昂贵, 曝光效率低。 步进式投影光刻 投影式光刻 第七页,共五十页,2022年,8月28日 光刻工艺的相关光学基础 光在空间中以电磁波的形式传播 当物体的尺寸远大于波长时,把光作为粒子来处理 当物体的尺寸和波长可比拟时,要考虑光的波动性-衍射 光的衍射效应 光的衍射影响分辨率,决定分辨率极限: 第八页,共五十页,2022年,8月28日 如果想在像平面(如光刻胶)对小孔进行成像,可以用透镜收集光并聚焦到像平面 第九页,共五十页,2022年,8月28日 数值孔径(Numerical Aperture NA) 光学系统的数值孔径描述透镜收集光的能力 n是透镜到硅片间介质的折射率, 对空气而言为1 分辨率 第十页,共五十页,2022年,8月28日 分辨率-Resolution K1是一个独立于光学成像的因子,取决于光刻系统和光刻胶的性质等其它因素 一般来说, 最小线宽 K1=0.6~0.8 第十一页,共五十页,2022年,8月28日 然而
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