DB32／T 4378-2022 《衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻的无损测试 四探针法》.docxVIP

ICS 65·020·40 CCS B 61 江 苏 省 地 方 标 准 DB32/T 4378一2022 衬底表面纳米、亚微米尺度薄膜 方块电阻无损测试 四探针法 Nan0，SUb-miCr0nSCalefilm 0nSUbStrate一N0n-deStrUCtiVeteSt meth0d0fShetreSiStanCe一F0UrPr0bemeth0d 2022-10-23发布 2022-11-23实施 江苏省市场监督管理局 中 国 标 准 出 版 社 发 布 出 版 I DB32/T 4378_2022 前 言 言文本按照 GB/T 1·1— 2020《标准化工作导则 第 1部分:标准化文本的结构和起草规则》的规定 起草。 请注意言文本的某些内容可能涉及专利。言文本的发布机构不承担识别专利的责任。 言文本由江苏省石墨烯检测标准化技术委员会提出并归口。 言文本起草单位:江苏省特种设备安全监督检验研究院[国家石墨烯产品质量检验检测中心(江 苏)]、苏州晶格电子有限公司、河南煜和科技集团有限公司、江苏华永烯科技有限公司、江南大学、无锡 华鑫检测技术有限公司、中国矿业大学、烯源科技无锡有限公司。 言文本主要起草人:杨永强、丁海龙、区炳显、谢 一 麟、陈武魁、刘禹、魏宁、呼志跃、王云超、王勤生、 马龙、李璐、