硅片腐蚀和抛光工艺的化学原理——半导体抛光资料文档.docxVIP

  • 18
  • 0
  • 约1.69千字
  • 约 2页
  • 2022-11-16 发布于江苏
  • 举报

硅片腐蚀和抛光工艺的化学原理——半导体抛光资料文档.docx

第 第 PAGE 1 页,共 2 页 在半导体材料硅的表面清洁处理,硅片机械加工后表面损伤层的去除、直接键合硅片的减薄、硅中缺陷的化学腐蚀等方面要用到硅的化学腐蚀过程。下面讨论硅片腐蚀工艺的化学原理和抛光工艺的化学原理。 一、硅片腐蚀工艺的化学原理 硅表面的化学腐蚀一般采用湿法腐蚀,硅表面腐蚀形成随机分布的微小原电池,腐蚀电流较大,一般超过 100A/cm2,但是出于对腐蚀液高纯度和减少可能金属离子污染的要求,目前主要使用氢氟酸(HF),硝酸(HNO )混合的酸性腐蚀液,以及氢氧化钾(KOH)或氢氧化钠 3 (NaOH)等碱性腐蚀液。现在主要用的是HNO -HF 腐蚀液和NaOH 腐蚀液。

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档