物理基础教案-全息干涉计量.docVIP

全息干涉计量 全息干涉现象是人们在全息照相实践中发现的。全息干涉计量双曝光法，即实时全息干涉计量法，在精密测量，无损检测，动态监控，生物技术等方面有着广泛的应用前景。全息干涉计量又是科学技术上的一个新领域，涉及诸多相关学科技术。 本实验，光源采用连续波工作的激光器，摄取和再现被计量或监控物的静态形变状态。重点了解全息双曝光技术的基本原理，主要特征和操作要领。 一、实验目的 1．了解全息干涉计量的原理，有关应用及特点。 2．掌握全息干涉计量的双曝光法。 二、实验原理、应用及特点 全息干涉计量是全息照相技术目前应用最广泛的应用领域之一。它的基本原理是：借助全息干涉测量确定物体表面上的静态与动态的形变。就是，将没有形变的物体表面形状在第一次曝光中记录在一张全息图上，再将变形的该物体的表面形状在第二次曝光中记录在同一张全息图上。这种方法我们称为双曝光法。在全息图再现时就必定同时出现两个有细微差异的物体表面图象。在全息图上衍射的光互相重叠，并产生肉眼可见的干涉条纹，这些干涉条纹就是衡量物体表面形变的尺度。利用全息干涉图能够记录物光相位的变动和光程的变动。要是在形变的测量中，折射率是常数，光程的变动是由几何光程的变化而产生的干涉条纹。但也可以反过来，使几何光程为常数，折射率变化。具体操作可以这样来做，例如，将一物体放到一个玻璃容器中。在做两次曝光时