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CT性能检测方法 性能检测所需设备与用具 所需设备与用具包括： 接地电阻测试仪； 积分剂量仪（长杆电离室或半导体探测器）； 测量管电压的仪表； 测量管电流的钳形表； 性能模体； 头部剂量模体； 体部剂量模体； 其他检定用设备。 性能检测方法 剂量指数 将头部和体部剂量模体放于射线照射野中心，将积分剂量仪依次放于模体的圆孔中，其余圆孔放入圆棒。 用头部模式和腹部模式分别进行扫描，扫描区域内不应有影响线束的物质。 用大于或等于100 mm电离室进行测量并记录下剂量仪示数Mx。 利用公式（A.1）计算剂量指数D。 D=Mx×N×F1×F2 式中： Mx ——剂量仪示数； F1——由测量的照射量转换成空气中吸收剂量的转换系数，33.97×103 mGy·kg/C； F2——由空气中吸收剂量转换成模体中的吸收剂量的转换因子，其值为0.88； Ks——层厚修正因子； Ktp——空气密度修正因子； d——扫描层厚，单位为厘米（cm）。 利用公式（A.2）计算出CTDI100 CTDI100=-5050DN×Tdz 式中： N——单次扫描的断层数； T——标称层厚。 利用公式（A.3）计算出CTDIW。 CTDIw=13CTDI100c+2 式中： CTDI100c——中心剂量指数； CTDI100p——外围各点剂量指数平均值。 螺旋CT还应由公式（A.4）得到CTDIvol。 CTDIvol=CTDIwPitch 式中： Pitch——螺距因子。 均匀性 将装有水或等效组织的直径为20 cm的模体置于扫描野中心，选择最大标称层厚。 CT运行条件用头部模式和腹部模式分别进行扫描，扫描区域内不应有影响线束的物质。 在扫描区域内选取5个区域，分别为中心、3、6、9、12点位置，距边缘10 mm,感兴趣区直径为模体直径的10%。 利用公式（A.5）计算均匀性U。 U=CTc-CTp (A. seq fulu_equation_133136820251151539 式中： CTc——中心区域CT值 CTp——边缘区域CT值的平均值 噪声水平 测量方法如均匀性。 根据5个测量区域的CT值的标准差由公式（A.6）得到噪声水平H。 H=SDk×100% (A. seq fulu_equation_133136820251151539 6) 式中： SD——标准差的平均值，HU； k——1000，HU。 图像之间一致性 将装有水或等效组织的直径为20 cm的模体置于扫描野中心。 CT运行条件用头部模式和腹部模式最大层厚和最小螺距的一次扫描分别进行扫描，扫描区域内不应有影响线束的物质。 在中心位置取第一幅图像,中间图像和最后一层图像,用极差表示图像之间一致性。 CT值 将已知CT值的5种插件插入充满水的主模体。 CT运行条件按头部模式或腹部模式分别进行扫描水和5种物质,在所扫描的物质中选取一个约100 mm2的区域记下CT值。 选取与标称值接近的测量值为该物质的CT值。 层厚 将层厚插件置于扫描野中心，CT运行条件用头部模式用不同层厚进行扫描。 用ROI测量斜线像邻域的CT值L1，将窗宽调到最小，调高窗位，直至四条斜线像消失时记录窗位L2。 计算L1和L2的平均值，记为L，窗宽调到最小，调节窗位到L，量得四条斜线的长度X。 利用公式（A.7）计算层厚值Z。 Z=X×tan23° (A. seq fulu_equation_133136820251151539 7) 式中： Z——层厚，单位为毫米（mm）； X——四条斜线的长度，单位为毫米（mm）。 高对比度分辨力 将高对比度分辨力插件置于扫描野中心，CT运行条件按头部模式或腹部模式分别进行扫描，将窗宽调至最小附近，调节窗位，来分辨最小的一组线对卡，得到高对比度分辨力。 低对比度分辨力 将低对比度分辨力插件置于扫描野中心，CT运行条件按头部模式在10 mm或最大层厚模式进行扫描。 分别取模体的插件和水的一个测量区域，读取水的CT值CTw、插件的CT值CTM和最大标准差SDmax。 由公式（A.8）和公式（A.9）分别计算出窗中心WL和窗宽WW，按计算结果调节窗宽和窗中心，确定各对比度系列中所能分辨的最小一级孔径，得到低对比分辨力。 WL=CTW-CTM2 (A. WW=CTM-CTW+5×SDmax （资料性）CT性能检测要求 CT性能检测要求表 序号 检测项目 检测类型 验收检测要求 状态检测要求 稳定性检测要求 建议周期 1 诊断床定位精度（mm） 定位 ±2 ±2 2 每月 归位 ±2 ±2 2 2 定位光精度（mm） - ±2 ±3 - - 3 扫描架倾角精度（°） - ±2 - - - 4 重建层厚s（mm） s≥8 ±10% ±15% 与基线值相差±20%或±1