一种减少误测的晶体测试治具.pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约5.95千字
  • 约 7页
  • 2023-02-14 发布于四川
  • 举报
本实用新型涉及一种减少误测的晶体测试治具,包括测试底盒,其上表面设有下凹的槽体,槽体内安装有测试主板,其上表面前侧设有导电垫片,导电垫片上设有与测试主板固定连接的测试台,测试台中部设有容纳产品的载料通孔,导电垫片的上表面从所述载料通孔的底部漏出;还包括位于导电垫片上方的测试压头,其活动连接在安装件上,由手柄驱动将待测产品压紧在导电垫片上。本实用新型保证产品在测试时处于始终水平状态,使产品pin脚与测试垫片由点接触变为线接触,增加了接触面积,减少测试误差,降低长期使用过程中对测试台造成的磨损。测试

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212540458 U (45)授权公告日 2021.02.12 (21)申请号 202020913187.5 (22)申请日 2020.05.26 (73)专利权人 无锡嘉硕科技有限公司

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档