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本实用新型涉及一种测试精准的半导体器件用测试座，包括：底座；陶瓷座，可上下移动的设置在底座内，且陶瓷座内开有凹槽；设置在凹槽内的定位陶瓷块，定位陶瓷块的顶部设有定位槽，且定位陶瓷块与凹槽的两侧形成了限位腔；底座的上方依次设有PCB基板和定位座；定位座的顶部设有盖板；定位座上设有两个凸台；测试片组件，通过可调一体式模组前后移动的设置在两个凸台之间；陶瓷座的顶部依次穿出PCB基板和定位座，且所述测试片组件设置在限位腔内，本实用新型能调制测试片针尖与芯片管脚接触的位置，还能通过陶瓷座配合压缩弹簧构成悬
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 212569023 U
(45)授权公告日 2021.02.19
(21)申请号 202021495980.4
(22)申请日 2020.07.23
(73)专利权人 苏州朗之睿电子科技有限公司
知识产权出版社有限责任公司（原名专利文献出版社）成立于1980年8月，由国家知识产权局主管、主办。长期以来， 知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作， 经过多年来的积累，已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。
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