用于集电子的检测装置.pdfVIP

  • 1
  • 0
  • 约7.67千字
  • 约 9页
  • 2023-02-21 发布于四川
  • 举报
本实用新型公开了一种用于集电子的检测装置,包括底座、垂直度测试结构、同心度测试结构以及焊接强度测试结构;垂直度测试结构包括开设于底座上的第一针孔和圆槽;同心度测试结构包括百分表、旋转轴和顶杆;旋转轴安装于底座的背面,具有定位孔;顶杆轴向可移动装配于顶杆内,以及顶杆的端部具有顶针部;百分表固定于底座上;焊接强度测试结构包括开设于底座上的凹槽和装配于凹槽上的两块挡块,凹槽与挡块之间形成供集电子的底盖进入的限位槽,两块的挡块之间形成供集电子的铜针伸出的开口,凹槽的底壁上具有与开口对应的避让槽。本实用新

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 212747642 U (45)授权公告日 2021.03.19 (21)申请号 202021680912.5 (22)申请日 2020.08.13 (73)专利权人 浙

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档