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- 2023-02-22 发布于四川
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本实用新型公开了一种适用于连续测量的超声波测厚仪，用于测量薄片厚度，包括探头、电缆线、主机、横梁、耦合剂瓶、推板和驱动机构，所述探头插接在横梁中部，横梁上设置有滑动腔室和插接腔室，插接腔室连接在滑动腔室靠近探头的一端，所述耦合剂瓶插接在插接腔室中；驱动机构驱动推板在滑动腔室中滑动，以挤压耦合剂瓶，促使耦合剂瓶中的耦合剂排出，以便于探头通过耦合剂与薄片紧密接触，由于耦合剂瓶和探头共同设置在横梁上，耦合剂瓶和探头能够同步运动，可根据实际工作需要，临时改变检测路径，以获得材料厚度变化情况。提高涂覆耦合
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 218496059 U
(45)授权公告日 2023.02.17
(21)申请号 202221638998.4
(22)申请日 2022.06.29
(73)专利权人 苏州凯硕机电设备工程有限公司
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