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本实用新型揭示了测试探针、光学芯片模组测试探针组件及测试装置，其中测试探针包括探针主体，所述探针主体的测试端斜切形成有一斜切平面，所述斜切平面的面积大于其测试端未切割前的端面的面积。本方案结构简单，测试探针无需弹簧等结构，尺寸大大减小，能够满足小管脚步距的使用要求，通过将探针主体上形成面积大于其端面面积的斜切平面，相对于现有技术，能够有效地增加接触面积，拓宽测试探针与管脚之间的位置公差范围，同时，有利于降低测试设备的整体加工和组装难度，可以在常规加工和组装精度条件下，降低开路情况的产生，提高测试
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 212845744 U
(45)授权公告日 2021.03.30
(21)申请号 202020688846.X (ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
(22)申请日 2020
知识产权出版社有限责任公司（原名专利文献出版社）成立于1980年8月，由国家知识产权局主管、主办。长期以来， 知识产权出版社非常重视专利数据资源的建设工作， 经过多年来的积累，已经收藏了数以亿计的中外专利数据资源。
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