测试治具.pdfVIP

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  • 2023-03-05 发布于北京
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本实用新型涉及一种测试治具,用于对待测工件进行测试,所述测试治具包括:本体,所述本体包括测试探针,所述测试探针用于与所述待测工件相抵接。转接件,所述转接件固定在所述本体上,所述转接件能够与所述测试探针电性连接。及辅助单板,所述辅助单板与所述转接件可拆卸连接。通过将辅助单板与转接件可拆卸连接,从而实现快速实现辅助单板在转接件上的安装与拆卸,起到了提高辅助单板更换速度的作用,避免待测单板的测试因存在较长时间的等待而导致延后,尽可能地压缩辅助单板的更换时间,最大限度的提高测试治具的工作效率。并且,可以

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213240210 U (45)授权公告日 2021.05.18 (21)申请号 202020695617.0 (22)申请日 2020.04.29 (73)专利权人 深圳市有方科技股份有限公司

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