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高密度存储一体化芯片性能检测设备.pdfVIP

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  • 2023-03-08 发布于四川
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高密度存储一体化芯片性能检测设备.pdf

    本实用新型公开了高密度存储一体化芯片性能检测设备，包括检测设备主体，所述检测设备主体的上端外表面设置有外壳罩，所述外壳罩的上端外表面设置有顶盖和绞座，所述绞座的一侧外表面设置有扣件。通过在检测设备主体的上端外表面设置外壳罩，在外壳罩的上端外表面设置顶盖，顶盖的上端而表面设置有卡件，有利于检测设备处于较为密闭的环境，使检测的数据更加精确，通过在一号载盘的下端外表面设置电动伸缩杆、滑板和一号滑轨，一号载盘的上端外表面设置吸盘和滑杆等部件，有利于使用者将芯片从顶盖处放在一号载盘上，之后一号载盘带着芯片

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213340291 U (45)授权公告日 2021.06.01 (21)申请号 202022088117.3 (22)申请日 2020.09.22 (73)专利权人 复汉海志（江苏）科技有限公司

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