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打印显示 薄膜均匀性测试方法 1 范围 本文件规定了利用台阶仪测试打印显示薄膜均匀性的方法，主要包括子像素内均匀性、相邻子像素 均匀性、短程均匀性测试方法。 本文件适用于打印显示薄膜制造、质量控制以及开发工作。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件， 仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本 （包括所有的修改单）适用于本 文件。 GB/T20871.2-2007 有机发光二极管显示器 第2部分:术语与文字符号 IEC 62899-401 打印电子 第401部分：可印刷型-概述 ［Printed electronics– Part 401：Printablility– Overview］ IEC 62899-403-1 打印电子 第403-1部分：可印刷型-再现性要求-印刷机的基本图案 ［Printed electronics – Part 403-1：Printablility – Requirments for reproducibility – Basic patterns for evaluation of printingmachine］ 3 术语和定义 GB/T20871.2-2007界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 像素 pixel 能完成必需显示功能的最小显示单元。 注：例如，在基于RGB垂直条的彩色显示中，三个相邻 RGB点组成一个像素。 子像素 subpixel 组成一个像素的各个点。 注：例如，在基于 R.G.B 垂直条的彩色显示中，每个 R，G，B点是一个子像素。 子像素均匀性 subpixeluniformity 一个子像素内打印效果的厚度均匀程度，评价子像素成膜均匀性。 注：与打印墨水、子像素界定层的材料和结构或干燥工艺等相关。 相邻子像素均匀性 adjacent subpixeluniformity 用于表征相邻同颜色子像素的成膜均匀性，以相邻子像素之间的厚度均匀程度表示。 注：与使用的喷嘴相关。 1 短程均匀性 short distanceuniformity 用于表征一定范围内多个同颜色子像素的成膜均匀性，以规定的范围内打印效果的均匀程度表示。 4 方法原理 对于有机电致发光二极管 （OLED）或量子点电致发光二极管 （QLED）等电流驱动型器件，通常 表现为电流密度大时，亮度高；电流密度小时，亮度低。而电流密度和薄膜厚度之间呈现正比关系。子 像素内各处薄膜厚度不均匀时，会出现不均匀的电流密度分布，更容易引起材料老化、裂解，引起器件 性能衰退。因此需要对像素内的薄膜厚度均一性进行测试，以实现亮度的均匀性。 测试打印显示薄膜厚度的方法，通常使用台阶仪 （或段差计），可通过接触表面形貌而获取薄膜厚 度。台阶仪扫描待测样品表面时，探针的扫描路径随着表面形貌而起伏，其运动情况反映了表面轮廓的 情况，进而得到打印薄膜的厚度，以计算薄膜均匀性。 5 测试条件 环境条件 除非另有规定，测试应在下列条件下进行： ——温度：25 ℃±2 ℃； ——相对湿度：25%~60%； ——大气压力：86kPa~106kPa； ——防震等级为1~100Hz频段内； 2 ——水平和垂直方向震动速度≤12.5直方向震，水平和垂直方向加速度≤6.25m/s 。 测试设备 测试中使用台阶仪的设置要求示例如表1所示。 表1 测试设备设置 序号 项目 规格 单位 备注 1 探针压力范围 0.5~15 mg ≤0.1 1mg 时