一种芯片性能测试装置及其固定结构和预警结构.pdfVIP

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  • 2023-03-29 发布于四川
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一种芯片性能测试装置及其固定结构和预警结构.pdf

本实用新型涉及芯片测试技术领域,且公开了一种芯片性能测试装置及其固定结构和预警结构,测试装置包括底板、预警板、固定板和测试板,所述底板顶部与测试板底部固定连接,所述固定板底部与预警板顶部活动连接,所述底板包括曲型板,所述曲型板内部开设有预警孔,所述底板顶部固定连接有提醒板,所述底板顶部固定连接有弹簧管,所述弹簧管内顶壁固定连接有细杆,所述弹簧管内底壁固定连接有一号弹簧,正常的情况下,横支杆相远离的一端与曲型板内壁活动连接,当预警板顶部压力过大时,使得预警板向下运动,在下降过程中,挤压板由于二号弹

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 214011434 U (45)授权公告日 2021.08.20 (21)申请号 202120068292.8 (22)申请日 2021.01.12 (73)专利权人 哈尔滨理工大学 地址

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