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- 2023-03-29 发布于四川
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本实用新型涉及快速I‑V测试系统技术领域，且公开了一种基于嵌入式的SMU四端口快速I‑V测试系统，包括主控芯片模块，所述主控芯片模块底端固定安装有显示模块，该基于嵌入式的SMU四端口快速I‑V测试系统，通过发送指令使得SMU模块读取外部电压电流，使AWG模块输出快速脉冲，然后读取ADC返回数据，并将返还的数据进行实时处理，同时令电源模块输出相应的电压电流进行限流处理，使得数据传输具有高度的同步性，高精度：采用32bit高精度ADC读取数据，配合抗干扰能力提升的外围电路与信号处理，数据处理具有高精
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 214011351 U
(45)授权公告日 2021.08.20
(21)申请号 202022785251.9
(22)申请日 2020.11.27
(73)专利权人 浙江力德仪器有限公司
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