一种集成电路测试装置.pdfVIP

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  • 2023-03-29 发布于四川
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本实用新型公开了一种集成电路测试装置,包括框架,所述框架正面与背面的底部均固定连接有挡板,所述框架的内部滑动连接有测试装置本体,所述测试装置本体的顶部通过轴承活动连接有螺杆,所述螺杆的顶端贯穿框架并延伸至框架的顶部,所述螺杆的顶端固定连接有转轮。本实用新型通过框架与挡板对测试装置本体进行防护,能够避免外部灰尘与测试装置本体接触,通过转轮带动螺杆旋转并通过表面的螺纹向上移动,螺杆在移动过程中对测试装置本体进行牵引,能够便于使用者对测试装置本体进行启闭,解决了现有的测试装置防护效果较差,不具备在日常

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 214011317 U (45)授权公告日 2021.08.20 (21)申请号 202120061788.2 (22)申请日 2021.01.11 (73)专利权人 西北师范大学 地址

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