一种半导体激光管性能检测装置.pdfVIP

  • 0
  • 0
  • 约8.07千字
  • 约 8页
  • 2023-04-04 发布于四川
  • 举报
本实用新型属于半导体激光器领域,特别涉及一种半导体激光管性能检测装置,包括MCU模块,MCU模块依次通过电压转换模块、测试电压模块与测试模块连接,MCU模块还分别通过译码器模块、测试电流模块、多路选择模块与测试模块连接;测试模块包括若干并联的待测模组,待测模组包括一P型MOS管和待测半导体激光管,P型MOS管的源极连接半导体激光管正极,其漏极接收测试电压模块提供的测试电压,半导体激光管的负极接收测试电流模块提供的测试电流。本新型通过MCU对整体装置进行控制可同时对多个激光二极管进行性能检测,减少

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 214097698 U (45)授权公告日 2021.08.31 (21)申请号 202023060831.8 (22)申请日 2020.12.18 (73)专利权人 四川省长星科技有限公司

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档