MSA测量系统分析的目的与方法.pptVIP

1、选取一个样品, 并建立可追溯标准的基准值。 对样本或标准件测量10次, 计算其平均值, 将其当成 “基准值”. 2、由一位作业者以常规方式对样本或标准件测量10次. 并计算出平均值, 此值为 “观测平均值”. 2、偏倚分析----独立样本法 第三十页，共五十六页。 1、通过采用更高级别的测量设备进行多次（10次）测量，取其平均值作为基准值。 2、如果不能按这种方法对所有样件进行测量，可采下列替代的方法 ： 在工具室或全尺寸检验设备上对一个基准件进行精密测量。 让一位评价人用与正被评价的量具同一级别的量具测量同一零件至少十次。 计算读数的平均值，即为基准值。 基准值的获取方法 第三十一页，共五十六页。 n计算偏倚: 偏倚= 观测平均值 – 基准值 过程变差= 6σ=T %偏倚=偏倚/过程变差 可用公差代替过程变差；6σ=T 第三十二页，共五十六页。 范例：塞规0.8 +_0.35 X1=0.75 X6=0.80 X2=0.75 X7=0.75 X3=0.80 X8=0.75 X4=0.80 X9=0.75 X5=0.65 已知：基准值为0.80mm X10=0.70 过程变差为T = 0.70(mm); 第三十三页，共五十六页。 偏倚占公差百分比采用同样方法计算，式中用公差代替过程变差。 因此，在量具RR研究中使用的厚薄规的偏倚为 -0.05。这意味着