一种同时固定多个半导体并导通的治具.pdfVIP

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2023-04-06 发布于北京
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本实用新型提供了一种同时固定多个半导体并导通的治具，包括固定支架和探针模组；探针模组包括浮动针座和探针，芯片安装在浮动针座上，且芯片的测试面与另一端连接PCB的探针的一端接触进行测试；固定支架包括治具底板、可移动的挡片固定板和安装在挡片固定板上的芯片挡片，治具底板安装固定若干探针模组，芯片挡片设置在浮动针座的上端面而限制芯片外移；一个浮动针座设有多个卡槽，一个治具底板上可安装多个探针模组，即本治具一次可同时固定多个芯片进行测试，提高了生产效率；随着芯片挡片的移动覆盖在卡槽的上端面，避免了芯片在测

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215415743 U (45)授权公告日 2022.01.04 (21)申请号 202120915433.5 (22)申请日 2021.04.29 (73)专利权人珠海广浩捷科技股份有限公司