半导体制冷片温差测试装置.pdfVIP

  • 5
  • 0
  • 约8.8千字
  • 约 9页
  • 2023-04-06 发布于四川
  • 举报
本实用新型涉及半导体制冷片技术领域,特别涉及一种半导体制冷片温差测试装置,包括工作台、两个限位板、底板、温差测试仪、恒温器和半导体制冷片;底板固定在工作台上,恒温器固定在底板上,两个限位板相对固定在底板两侧,两个限位板相对的一侧均设置有卡槽,半导体制冷片安装在卡槽内,温差测试仪包括温度检测器、支架和两个导电片;支架固定在其中一个限位板顶面,温度检测器固定在支架上;工作台在两块限位板的一侧边固定有绝缘板,导电片固定在绝缘板上,导电片给半导体制冷片通电,解决了半导体制冷片热面的温度无法保持恒温的问题

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215415154 U (45)授权公告日 2022.01.04 (21)申请号 202121825637.6 (22)申请日 2021.08.06 (73)专利权人 鹏南科技(厦门)有限公司

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档