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- 2023-04-07 发布于北京
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本实用新型公开了一种用于芯片检测的多工位测试治具，包括第一热盘、第二热盘、进料盘、出料盘、吸头组件和测试固定板，所述第一热盘和第二热盘并列安装，所述进料盘和出料盘分别设置在第一热盘和第二热盘上，所述进料盘和出料盘上分别设置有测试固定板，第一热盘和第二热盘上开设有限位槽，进料盘和出料盘的底侧设置限位销，限位销与限位槽为配合结构，进料盘和出料盘的顶侧设置有定位杆，测试固定板的底侧设置有定位孔，定位杆与定位孔为配合结构，保证测试治具稳定，保证检测的准确性，进料盘和出料盘上的定位杆呈矩形阵列设置，原型号
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 215449352 U
(45)授权公告日 2022.01.07
(21)申请号 202121535995.3
(22)申请日 2021.07.07
(73)专利权人 苏州易锝玛精密机械有限公司
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