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- 2023-04-07 发布于北京
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本实用新型提供一种半导体产品外观检验载具，包括下托盘和设置在所述下托盘的上的上托盘，其中，在所述下托盘上设置有下型腔，在所述上托盘上设置有与所述下型腔位置对应的上型腔，所述上型腔和所述下型腔相扣合形成产品型腔，待检验产品收容至所述产品型腔内。利用上述实用新型能够减少产品检验对半导体产品造成的二次伤害，显著提升检验效率。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 215448952 U
(45)授权公告日 2022.01.07
(21)申请号 202121479745.2
(22)申请日 2021.06.30
(73)专利权人 荣成歌尔微电子有限公司
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