一种用于半导体产品生产的检测设备.pdfVIP

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  • 2023-04-14 发布于四川
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一种用于半导体产品生产的检测设备.pdf

本实用新型涉及一种用于半导体产品生产的检测设备,包括主体,所述主体的上端设有滑槽,所述滑槽内设有四个检测单元,所述检测单元与滑槽滑动连接,相邻的两个检测单元之间设有绝缘片,所述绝缘片位于滑槽内,所述检测单元包括插槽、触片和走位单元,所述触片位于插槽底部,所述插槽中空设置,该用于半导体产品生产的检测设备通过设置四个可活动式检测单元,能够适用于各种引脚间距的整流桥的测量,提高了适用范围,提高了实用性。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215678488 U (45)授权公告日 2022.01.28 (21)申请号 202122128879.6 (22)申请日 2021.09.03 (73)专利权人 深圳市海泰精工科技有限公司

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