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射频芯片的自动补偿方法及系统、设备及介质.pdfVIP

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  • 2023-04-15 发布于四川
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射频芯片的自动补偿方法及系统、设备及介质.pdf

    本发明公开了一种射频芯片的自动补偿方法及系统、设备与介质，自动补偿方法包括步骤：对射频芯片测试第一预设次数，根据各次抓取的第一采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值；代入补偿差值后，对射频芯片测试第二预设次数，根据各次抓取的第二采样测试数据的平均值和预设标准值，确定补偿差值是否符合要求。本发明通过提供一种射频芯片的自动补偿方法及系统、设备与介质，克服了手动补偿存在修改错误可能性较高以及效率较低的弊端，通过自动补偿和记录实现了满足量产测试要求的补偿处理，提高了测试效率和精度。

    (19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 115840130 A (43)申请公布日 2023.03.24 (21)申请号 202211558004.2 (22)申请日 2022.12.06 (71)申请人 安测半导体技术（义乌）有限公司 地址

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