一种COB芯片封装用推力测试仪.pdfVIP

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  • 2023-04-16 发布于四川
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本实用新型公开了一种COB芯片封装用推力测试仪,包括推力测试仪本体,所述推力测试仪本体右侧的底部连通有管道,所述管道的左侧贯穿至推力测试仪本体的内部,所述管道的左侧固定连接有固定板,所述固定板的右侧固定连接有弹簧,所述管道的内部设置有压环,所述管道内壁的顶部与底部均固定连接有限位块。本实用新型通过设置推力测试仪本体、管道、固定板、弹簧、压环、限位块、固定盒、限位槽、吸水材料、固定框、固定槽、风扇和通口的配合使用,解决了现有的推力测试仪不具备除潮的功能,导致推力测试仪在潮湿的天气中会出现推力测试仪

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 215726468 U (45)授权公告日 2022.02.01 (21)申请号 202122161913.X (22)申请日 2021.09.08 (73)专利权人 深圳市英内尔科技有限公司

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