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- 2023-04-21 发布于四川
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提供X射线分析装置。不需要用于将试样配置于一次X射线(X1)照射区域的位置调整机构和位置调整过程,利用简单的结构实现连续地测定大量小片试样的方法。荧光X射线分析装置构成为包含能够对试样照射X射线的X射线照射部、检测从试样产生的二次X射线的X射线检测部、搬送试样的试样搬送部和对检测到的X射线强度进行处理的数据处理部,使各个结构要素具有以下的功能。试样搬送部使试样移动以使试样通过X射线照射位置。X射线检测部以比试样通过X射线照射部所需要的时间短的时间间隔连续取得X射线能量谱。数据处理部根据连续取得的
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113884524 A
(43)申请公布日 2022.01.04
(21)申请号 202110629795.2
(22)申请日 2021.06.07
(30)优先权数据
2020-1277
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