1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内专利

光通讯用芯片的老化测试系统.pdfVIP

  • 7
  • 0
  • 约1.1万字
  • 约 14页
  • 2023-04-22 发布于四川
  • 举报

光通讯用芯片的老化测试系统.pdf

    本发明公开一种光通讯用芯片的老化测试系统，包括：2个并排设置的箱体、设置于每个箱体顶部的配电系统、安装于一个箱体上的控制面板和安装于另一个箱体上的置物板，每个所述箱体内沿竖直方向间隔设置有若干个隔热板，从而在上下相邻的两个隔热板与箱体之间围成一炉腔，每个所述炉腔内可抽拉地安装有至少一个单元抽屉，所述箱体的底部具有一风仓，所述箱体内具有一沿竖直方向设置的落灰通道，落灰通道底部并位于过滤网相背于风仓的一侧活动安装有一集尘盒。本发明既可以保证测试温度环境的稳定性，又可以实现对炉腔内灰尘杂质的及时收集排

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113933545 A (43)申请公布日 2022.01.14 (21)申请号 202111147468.X (22)申请日 2021.09.29 (71)申请人 苏州联讯仪器有限公司

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >